Экспериментальный подход «double-hit» в изучении тройных распадов 252Cf(sf)

Аннотации

Аннотация

Представлены результаты исследования распада некоторой доли осколков бинарного деления ²⁵²Cf(sf) при их прохождении через фольгу из Ti. Два различных экспериментальных подхода к исследованию эффекта дополняют друг друга, а именно методы «потерянной массы» и «двойной регистрации» (double-hit approach). В рамках последнего оба продукта распада детектируются в одном и том же PIN-диоде. Распад происходит после бинарного деления материнского ядра с запаздыванием примерно на 150 пс, что является сильным указанием на то, что фрагмент, испытывающий распад, рождается в состоянии изомера формы.