Использование пучка сфокусированного рентгеновского излучения для измерения позиционной чувствительности монокристаллического ХОГ алмазного детектора

Аннотации

Авторы

  • Я. Алзамил Отделение диагностической радиологии Колледжа прикладных медицинских наук Университета Хейла, Хейл, Саудовская Аравия
  • М. И. М. Мохсен Факультет ядерной инженерии, Военно-технический колледж, Кобри-эль-Кобба, Каир, Египет
  • М. Алобаид Отделение радиологии, Кластер здравоохранения, Хайль, Саудовская Аравия
  • А. Эль-Тахер Физический факультет, Факультет естественных наук, Университет Аль-Азхар, Асьют, Египет
  • А. Лохстрох Физический факультет Суррейского университета, Гилфорд, Суррей, Великобритания
  • М. А. Е. Абдель-Рахман Факультет ядерной инженерии Военно-технического колледжа, Каир, Египет; Физический факультет Суррейского университета, Гилфорд, Суррей, Великобритания

Ключевые слова:

CVD diamond, radiation detector, X-ray mapping sensitivity, silicon PIN diode

Аннотация

В данной статье представлено углубленное исследование позиционной чувствительности
с использованием сфокусированного рентгеновского излучения, создаваемого рентгеновской трубкой и применяемого к образцу монокристаллического алмаза низкой чистоты, обозначенному как VS-Ti/Au. Более конкретно, исследование показывает влияние изменения размера пучка, смещения шага, полярности смещения, отжига устройства, а также мощности дозы (тока в трубке) на текущий отклик этих позиций. Кроме того, в статье также представлена текущая характеристика позиционной чувствительности в зависимости от напряжения смещения и формы импульсов фототока в различных точках (положениях внутри образца) в зависимости от времени. Стоит подчеркнуть, что в ходе исследований, проводимых в рамках данной
статьи, был выбран образец-дублер, выращенный методом химического осаждения из газовой фазы (ХОГ), из-за его особенностей, таких как тонкие линии азота и площадь подложки (которые можно наблюдать с помощью рентгеновского  картирования). Более того, исследования, включенные в эту статью, иллюстрируют два метода, которые использовались для измерения  диаметра пятна (важнейшего параметра для составления карты чувствительности) при перемещении детектора в направлении x−y. Впервом методе используется флуоресцентная бумага и видеокамера, в то время как во втором методе используется перешагивание через грань кремниевого PIN диода. Результаты применения этих двух методов показали сходные тенденции в изменении диаметра пятна (т. е. увеличение интенсивности с увеличением мощности дозы),  однако второй метод (кремниевый PIN диод) привел к более высоким значениям. Полученные  результаты дают ключевую информацию о поведении монокристаллического ХОГ алмазного
детектора при воздействии рентгеновского излучения. Это особенно важно, поскольку рентгеновское облучение находит применение в радиотерапевтических целях, в условиях небольших полей и в режиме онлайн-дозиметрии, а также в медицинской визуализации и мониторинге
пучка как на ускорителях, так и в установках синхротронного излучения.

Опубликован

2025-10-08

Выпуск

Раздел

Физика элементарных частиц и атомного ядра. Эксперимент

Как цитировать

Использование пучка сфокусированного рентгеновского излучения для измерения позиционной чувствительности монокристаллического ХОГ алмазного детектора: Аннотации. (2025). Письма в ЭЧАЯ, 22(4). https://pepan.jinr.ru/index.php/PepanLetters/article/view/1039