“Исследования глубинного профиля нативных оксидных слоев, покрывающих GaAs, имплантированный благородным газом, методом резерфордовского обратного рассеяния с ядерной реакцией: Аннотации”, Письма в ЭЧАЯ, vol. 23, no. 5, Oct. 2026, Accessed: Nov. 12, 2026. [Online]. Available: https://pepan.jinr.ru/index.php/PepanLetters/article/view/2592