Методы определения толщины и элементарного состава тонких слоев, облучаемых пучком ионов, при измерении сечений ядерных реакций. Письма в ЭЧАЯ [Internet]. 2025 Oct. 8 [cited 2025 Dec. 5];22(4). Available from: https://pepan.jinr.ru/index.php/PepanLetters/article/view/1957