“Методы определения толщины и элементарного состава тонких слоев, облучаемых пучком ионов, при измерении сечений ядерных реакций”. Письма в ЭЧАЯ, vol. 22, no. 4, Oct. 2025, https://pepan.jinr.ru/index.php/PepanLetters/article/view/1957.