“Разработка и калибровка многодетекторной системы для измерения двумерного профиля электронного пучка с помощью метода многоуглового сканирования: Аннотации”. 2025. Письма в ЭЧАЯ 22 (5). https://pepan.jinr.ru/index.php/PepanLetters/article/view/2057.