(untitled) (Письма в ЭЧАЯ, 2024)
Предложена и реализована оптическая схема диагностики умеренно релятивистских электронных пучков, основанная на регистрации оптического переходного излучения (ОПИ). Данная схема позволяет измерять профиль пучка, его угловую расходимость и энергию, не прибегая к расщеплению пучка ОПИ на два, а используя единственный оптический тракт. Используемая коммерческая CCD камера с рабочим полем 6×20 мм и размерами пикселя 26×26 микрон позволила измерять угловое распределение ОПИ и, соответственно, энергию электронов с точностью около 7%.