Радиационное повреждение SiPM при облучении быстрыми нейтронами

Авторы

  • Е. А. Стрелецкая Объединенный институт ядерных исследований, Дубна
  • Ю. А. Копылов Объединенный институт ядерных исследований, Дубна
  • Н. И. Замятин Объединенный институт ядерных исследований, Дубна
  • Б. Л. Топко Технологический институт Карлсруэ, Германия
  • А. И. Шереметьева Объединенный институт ядерных исследований, Дубна

Аннотация

Кремниевые пиксельные фотоумножители (SiPM) получили массовое применение в различных областях научной экспериментальной аппаратуры. Как правило, применение SiPM в физических экспериментах на ускорителях предполагает наличие радиационного фона в области расположения детектирующей аппаратуры. Создаваемые радиационные дефекты в области пространственного заряда (ОПЗ) пикселей приводят к росту термогенерационного тока, являющегося источников шума. Основными и практическими вопросами для любого эксперимента являются: время жизни, темп деградации основных параметров и режимы работы SiPM, снижающие отрицательные эффекты от накопления радиационных повреждений во времени. В данной работе сделана попытка практически ответить на часть этих вопросов.

Загрузки

Опубликован

2024-10-21

Выпуск

Раздел

Статьи