“Методы определения толщины и элементарного состава тонких слоев, облучаемых пучком ионов, при измерении сечений ядерных реакций”. Письма в ЭЧАЯ 22, no. 4 (October 8, 2025). Accessed March 7, 2026. http://pepan.jinr.ru/index.php/PepanLetters/article/view/1957.