Исследование чувствительности ХОГ алмазных детекторов с помощью синхротронного мэппинга микропучком: Аннотации (Письма в ЭЧАЯ, 2025)
Выполнено картирование чувствительности с использованием источника сфокусированного рентгеновского микропучка на трех изготовленных образцах (VS-Pt, HPS-Pt и HPS-Al/Pt). Образец VS-Pt был выбран из-за его особенностей, таких как тонкие линии азота и площадь подложки. С целью выбора оптимальных условий для получения изображений линий азота в образце с высоким разрешением был исследован источник сфокусированного рентгеновского излучения (синхротронный микролучевой прибор Diamond Light Source, DLS). Дополнительно было исследовано отображение чувствительности HPS-Pt и HPS-Al/Pt для изучения влияния размера пучка, смещения шага, полярности смещения, отжига и электрического контакта на однородность отклика по току, чтобы выбрать оптимальные условия для синхротронных измерений.Карты с высоким пространственным разрешением были получены для образца VS-Pt со смещением микрошага на 10 мкм или менее. На фототок влияет полярность смещения; при отрицательном смещении ток выше, чем при положительном. Существуют области с высоким током, в которых требуется больше времени для восстановления до исходного значения. Время медленно увеличивается вблизи линии азота, при этом время стабилизации увеличивается со смещением. Для HPS-Al/Pt с увеличением смещения однородность отклика по току не улучшается. При различных отрицательных смещениях HPS-Al/Pt демонстрирует высокий темновой ток, нестабильные сигналы и очень низкий фототок. Для HPS-Pt при смещении +50 и −50 В токовая характеристика однородна, становясь более однородной при 100 Ви улучшаясь при увеличении смещения до +200 В, что делает его наиболее подходящим выбором для синхротронных измерений.