Рефлектометрия нейтронов с регистрацией вторичного излучения. Корпускулярно-волновой метод определения наномасштабных распределений плотности изотопов

Аннотация

Рассмотрены различные режимы нейтронного волнового поля. Обосновано использование скользящей геометрии падения нейтронов в режиме стоячих волн с регистрацией зеркально отраженных нейтронов и вторичного излучения в виде заряженных частиц, гамма-квантов, рассеянных и испытавших переворот спина нейтронов. Новый способ измерения, реализующийся в исследованиях слоистых структур, сочетает в себе как волновые свойства распространения нейтронов, так
и корпускулярные свойства нейтронов в ядерных реакциях. Приведены экспериментальные данные по определению параметров метода. Отмечены перспективы в развитии нейтронной рефлектометрии и корпускулярно-волнового метода измерений.